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高大钊老师认为：从土的性质来研究土层均匀性，一般认为同一地质单元可以作为均质体来处理，可以采用统计的方法来处理试验指标。如果不承认这一点，即使是最简单的计算平均值的方法也就失去了理论的前提，就不能用平均值来处理试验结果。也失去了钻孔抽样取土试验的理论依据，那麻烦就大了。将试验指标用于工程计算时，计算公式的推导都有均质土的假定，计算基础中点沉降时，你必须承认土层是均匀的，包括深度方向和水平方向都是均匀的，如果不承认这一点，这个计算土中应力的公式就不成立，还计算什么？ TgJ+:^+0  
     那么我们已经认为地基是均匀的，那么是否还要按《高层建筑勘察规范》提供的评价方法，进行均匀性评价？是否还要提供角点的变形参数进行变形计算？也就是说每一层都只有一个变形模量值，不存在不同点上的差异性？这种理解是否正确？ >Ec;6V e  

     “  同一地质单元可以作为均质体来处理” c)Ng9p  
    对此，始终难以认可。理论上似乎无可厚非，但实践中常常会出人意料！ S['rTuk  
     同一地质单元可以作为均质体来处理。那么，我在同一地貌单元上的同一土层、一定范围取若干试样（符合规范取样数量要求），是否可以代表整个地貌单元该土层物理力学性质了呢？ ){mqo
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     如果所取土样试验结果差异较大，一概认为是偶然误差，似乎不尽合理；或如果据土样试验结果差异将一层土无休止地分层（比如将一层黄土据试验指标划为三层），似乎也不尽合理。 fP 3eR>e  
     不可否认，取样质量、试验对其结果是有影响的，但按规范操作所取土样应该是不会太离谱的，尤其对人工刻取的土样更应承认其代表性。统计结果，是为了消除误差，作为一个大层土代表值是科学的，这点我们都能理解。但对于均匀性评价，一层土使用同一压缩指标进行评价似乎有失偏颇。假如在高层四角点一层土全部取样，仅一个勘探点的5个样与其余勘探点差异较大，取样方法一致，能否一概认为是试验误差、抑或干脆将该孔该层土单独划层呢？因此，我坚持单孔评价意见。 <FR!x#!   
   当然，我也承认， 同一地质单元可以作为均质体来处理是对的。毕竟同一地质单元的同一认可层性质变化是局部的，不能改变整个土层的总体性质。但这一局部，正好就涉及到均匀性评价的范畴了。 'uzHI@i  
     这也是学习高老师著作时的疑惑！似乎许多人在解释，但至今疑惑未解。期待指教！ pFs/ipZX^*  
  

搞这么复杂，搞不懂